Kaufen SN74ABT8652DL mit BYCHPS
Kaufen mit Garantie
SN74ABT8652DL
- Artikelnummer:
- SN74ABT8652DL
- Hersteller:
- Beschreibung:
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP
- Bleifreier Status / RoHS Status:
- Bleifrei / RoHS-konform
- verfügbare Anzahl:
- 16612 Pieces
- Datenblatt:
- SN74ABT8652DL.pdf
Einführung
BYCHIPS ist der Strumpfhändler für SN74ABT8652DL, wir haben die Lagerbestände zum sofortigen Versand und auch zur Langzeitversorgung. Bitte senden Sie uns Ihren Kaufplan für SN74ABT8652DL per E-Mail, wir geben Ihnen einen besten Preis nach Ihrem Plan.
Spezifikation
| Versorgungsspannung: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Supplier Device-Gehäuse: | 28-SSOP |
| Serie: | 74ABT |
| Verpackung: | Tube |
| Verpackung / Gehäuse: | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Andere Namen: | 296-4114-5 |
| Betriebstemperatur: | -40°C ~ 85°C |
| Anzahl der Bits: | 8 |
| Befestigungsart: | Surface Mount |
| Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Hersteller Standard Vorlaufzeit: | 6 Weeks |
| Hersteller-Teilenummer: | SN74ABT8652DL |
| Logiktyp: | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| Expanded Beschreibung: | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP |
| Beschreibung: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
| Email: | [email protected] |
In Verbindung stehende Teile für SN74ABT8652DL
| Image | Artikelnummer | Hersteller | Beschreibung | Aussicht |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT8652DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Anfrage |
|
SN74ABT8652DWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Anfrage |
|
SN74ABT8652DWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Anfrage |
|
SN74ABT8652DW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Anfrage |
|
SN74ABT8646DW | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Anfrage |
|
SN74ABT8652DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Anfrage |
|
SN74ABT8652DWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Anfrage |
|
SN74ABT8652DLG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Anfrage |
|
SN74ABT8646DWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Anfrage |
|
SN74ABT861DW | Texas Instruments | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC | Anfrage |
|
SN74ABT863NT | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 9BIT 24DIP | Anfrage |
|
SN74ABT8646DLG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Anfrage |
|
SN74ABT863DW | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 9BIT 24SOIC | Anfrage |
läst Nachrichten
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog