Kaufen SN74ABTH18504APM mit BYCHPS
Kaufen mit Garantie
SN74ABTH18504APM
- Artikelnummer:
- SN74ABTH18504APM
- Hersteller:
- Beschreibung:
- IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
- Bleifreier Status / RoHS Status:
- Bleifrei / RoHS-konform
- verfügbare Anzahl:
- 12807 Pieces
- Datenblatt:
- SN74ABTH18504APM.pdf
Einführung
BYCHIPS ist der Strumpfhändler für SN74ABTH18504APM, wir haben die Lagerbestände zum sofortigen Versand und auch zur Langzeitversorgung. Bitte senden Sie uns Ihren Kaufplan für SN74ABTH18504APM per E-Mail, wir geben Ihnen einen besten Preis nach Ihrem Plan.
Spezifikation
| Spannungsversorgung: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Supplier Device-Gehäuse: | 64-LQFP (10x10) |
| Serie: | 74ABTH |
| Verpackung: | Tray |
| Verpackung / Gehäuse: | 64-LQFP |
| Andere Namen: | 296-4135 SN74ABTH18504APMG4 SN74ABTH18504APMG4-ND |
| Betriebstemperatur: | -40°C ~ 85°C |
| Zahl der Schaltkreise: | 20-Bit |
| Befestigungsart: | Surface Mount |
| Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Hersteller Standard Vorlaufzeit: | 6 Weeks |
| Hersteller-Teilenummer: | SN74ABTH18504APM |
| Logiktyp: | Scan Test Universal Bus Transceiver |
| Expanded Beschreibung: | Scan Test Universal Bus Transceiver 20-Bit 64-LQFP (10x10) |
| Beschreibung: | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP |
| Strom - hoch, niedrig: | 32mA, 64mA |
| Email: | [email protected] |
In Verbindung stehende Teile für SN74ABTH18504APM
| Image | Artikelnummer | Hersteller | Beschreibung | Aussicht |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABTH18502APMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | Anfrage |
|
SN74ABTH162460DL | Texas Instruments | IC REGISTERED TRANSCVR 56SSOP | Anfrage |
|
SN74ABTH18504APMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | Anfrage |
|
SN74ABTH18502APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | Anfrage |
|
SN74ABTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Anfrage |
|
SN74ABTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | Anfrage |
|
SN74ABTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | Anfrage |
|
SN74ABTH16245DLG4 | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 16BIT 48SSOP | Anfrage |
|
SN74ABTH16245DGGR | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 16BIT 48TSSOP | Anfrage |
|
SN74ABTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | Anfrage |
|
SN74ABTH18652APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Anfrage |
|
SN74ABTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Anfrage |
läst Nachrichten
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog