SN74ABTH18652APM
Artikelnummer:
SN74ABTH18652APM
Hersteller:
Beschreibung:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Bleifreier Status / RoHS Status:
Bleifrei / RoHS-konform
verfügbare Anzahl:
17490 Pieces
Datenblatt:
SN74ABTH18652APM.pdf

Einführung

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Spezifikation

Versorgungsspannung:4.5 V ~ 5.5 V
Supplier Device-Gehäuse:64-LQFP (10x10)
Serie:74ABTH
Verpackung:Tray
Verpackung / Gehäuse:64-LQFP
Andere Namen:296-4137
SN74ABTH18652APMG4
SN74ABTH18652APMG4-ND
Betriebstemperatur:-40°C ~ 85°C
Anzahl der Bits:18
Befestigungsart:Surface Mount
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL):3 (168 Hours)
Hersteller Standard Vorlaufzeit:14 Weeks
Hersteller-Teilenummer:SN74ABTH18652APM
Logiktyp:Scan Test Device With Transceivers And Registers
Expanded Beschreibung:Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Beschreibung:IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Email:[email protected]

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